概述
高电压、强电场作用下，高压线路及装备中绝缘性能薄弱的部分会发生局部放电，当线路上局部电场强度大于气体电离强度时，会产生电晕放电，同时辐射出光波、声波，产生热量，还有臭氧、紫外线、硝酸等，局部放电的检测和评价已就成为电力线路绝缘状况检测的重要手段。
电晕放电会消损电能，据不完全统计，我国每年因为电晕放电而消损的电能可达到20.5亿kW.H；电晕放电同时会产生强大的脉冲电磁波，对无线电和高频通信产生巨大干扰；而且，电晕放电会导致表面发生腐蚀，加速绝缘老化，降低绝缘性能及其使用寿命，危害巨大。
目前，电晕放电检测技术主要有目视观察法、红外热成像技术、超声探测技术和紫外成像技术等。电晕放电目标小、强度弱，目视法很难观察到；太阳光中含有很强的红外线，用红外热成像技术观察误检率较高，且红外热成像技术检测电晕放电时响应速度慢；超声探测技术能够定位放电源，但其灵敏度不高且很难对放电性质和放电强度进行判断，且由于声波在传播途径中衰减、畸变严重，所以声测法基本不能反映放电量的大小；紫外成像技术具有不接触、不受高频干扰影响、灵敏度高、超前预警等特点，图像直观、工作方便、离线观察、全天候、便于携带，非常适合巡检和航拍，已成为电晕放电检测技术和绝缘性能评价的重点研究方向。
表1电晕探测技术性能比较总表
工作原理
高压设备电离放电时，电子释放能量，会同时辐射出光波和声波，还有臭氧、紫外线、微量的硝酸等。日盲紫外成像技术探测电晕放电产生的紫外信号，经处理后与可见光图像叠加，确定电晕位置和强度，为评价设备运行情况提供依据，其示意图如图1所示。
图1 紫外线成仪仪结构示意图
紫外线波长范围是100nm～400nm，太阳光中虽含紫外线，但由于地球臭氧层吸收了部分波长紫外线，辐射到地面的太阳紫外线波长大都在280nm以上，低于280nm的波长区间称为“太阳盲区”。空气中的氮气电离时产生紫外线光谱波长大部分在280nm～400nm的区域内，很小一部分波长小于280nm。因此，若能探测到太阳盲区内的紫外光，只可能是来自地球上的辐射。
采用特定紫外探测组件，可利用太阳盲区，使其工作在紫外波长200nm～280nm之间，而对其他频谱不敏感，从而去除可见光源的干扰。日盲紫外探测系统就是避开自然光背景，不受环境辐射影响，全天时、全天候工作，为电晕放电检测提供高效手段。此外，大气压下，电压增加，电晕放电光谱紫外区辐射增加，当气隙变长时，则紫外辐射减弱；红外光谱则相反，外加电压低、气隙较长时红外光谱更强；可见光区域对外加电压和气隙长度较不敏感。因此，对高压设备的气体放电检测，紫外光作为检测信号也比可见光和红外线更加灵敏。
产品特点
该产品定位于高压设备电晕监测，主要优点如下技术参数
紫外CCD成像技术
电晕放电所产生的为nW级紫外光辐射信号，必须使用紫外增强CCD成像技术对信号进行有效的探测。紫外光子照射到光电阴极上,按一定的量子转换效率转化为光电子,在加速电场的作用下光电子进入MCP 进行倍增,然后聚焦到荧光屏激发出可见光,通过光锥将图像耦合到可见光CCD 上,最后由电子线路读出,完成从入射光到电子图像的转换，从而获得了紫外图像信息。
通过和紫外图像进行配准融合，既保证了紫外信号质量，又保留了背景信号信息，两路图像经融合后，既能检测电晕也能清楚地显示放电点的位置
紫外光子计数技术
紫外成像仪在现场进行电晕放电检测的过程中，通过选定的范围，根据所显示的单位时间内紫外光子数对电晕放电强度进行量化的。可以实时统计单位时间内目标电晕发生时，带电粒子电离和复合过程中所发出的紫外光子，并以此为参量表征电晕放电的强度。
自动调焦技术
先任意采集一幅图像，计算其熵值，然后使步进电机正向前进若干步，再次计算熵值。比较两次的熵值大小，如后一次的值比前一次的小，则电机前进，反之，则后退；当电机停止后，再先后记录两次图像的熵值，比较其大小，如后一次的值仍比前一次的小，电机继续前进，反之则继续后退；直到测得后一次的值比前一次的大，电机反转，同时缩小前进的步数，即缩小调焦范围；依次循环若干次后，判断此时先后采集的两幅图像的熵值差的绝对值是否小于 设定值。如果小于，退出自动调焦程序，调焦完成，否则继续循坏，进行判定，直到判定到清晰图像为止。
“日盲”技术
由于臭氧层的吸收作用，接近地球表面的太阳辐射波长均在290纳米以上。具有截止波长少于280纳米的紫外线探测器统称为日盲紫外探测器。项目产品可以探测到240-280nm的微弱电晕辐射，完全不受环境的阳光的影响，在白天黑夜都可以进行检测。
通过光子计数判断设备状况
光子计数量化可实时显示单位时间内设备电晕发生时所产生的紫外光子，并以此为参量表征电晕放电的强度，在大量的电力设备检测数据分析和搜集基础上，我们根据每分钟辐射电子数量进行分类，将光子数的强度分为3个等级：高度集中、中度集中、轻度集中，通过光子计数判断设备故障情况。
光学和电子学结合的图像配准技术
光学设计，采用双光路结构，设计紫外和可见两套光路，通过反射镜组共享同一视场。通过调整反射镜组以及可见光镜头调焦来确保紫外成像探测与可见光成像探测在同一视场、同一光路下观测目标物，这种结构还是存在固有的结构性视差，再通过图像倍率调整，数字位移配准，实现两路成像的精确配准。
尺寸图
